杭州高裕电子科技有限公司

二管恒流老化系统(并联) OPLIFE、CFOL、IFOL、功率循环

二管恒流老化系统（并联）★合标准：MIL-STD-750D、G128等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的中、小功率二管稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）。★技术特点：●试验电流恒定，试验参... ...

二管恒流老化系统(串联) OPLIFE、CFOL、IFOL

二管恒流老化系统（串联）★合标准：MIL-STD-750D、G128等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的中、小功率二管稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）。★技术特点：●试验电流恒定，试验参... ...

BURN-IN 集成电路高温动态老化系统 MIL-STD-883D G548

集成电路高温动态老化系统★合标准：MIL-STD-883D、MIL-M-38510、G548、G597等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器... ...

分立器件

分立器件综合老化系统★合标准：MIL-STD-750D、G128等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的中、小功率二管、三管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等等元器件的稳态寿命试验（CF... ...

大功率IGBT功率循环老化系统,Power Cycling,AEC-Q101,结温老化

大功率IGBT模块功率循环老化系统★合标准：MIL-STD-750D、G128、JEDEC等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的大功率IGBT、MOS管做功率循环寿命试验。★技术特点：●严格满足△Tj≥100℃。●检测显示... ...

二管恒流老化系统(并联) OPLIFE、CFOL、IFOL、功率循环

二管恒流老化系统（并联）★合标准：MIL-STD-750D、G128等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的中、小功率二管稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）。★技术特点：●试验电流恒定，试验参... ...

二管恒流老化系统(串联) OPLIFE、CFOL、IFOL

二管恒流老化系统（串联）★合标准：MIL-STD-750D、G128等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的中、小功率二管稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）。★技术特点：●试验电流恒定，试验参... ...

BURN-IN 集成电路高温动态老化系统 MIL-STD-883D G548

集成电路高温动态老化系统★合标准：MIL-STD-883D、MIL-M-38510、G548、G597等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器... ...

大功率IGBT功率循环老化系统,Power Cycling,AEC-Q101,结温老化

大功率IGBT模块功率循环老化系统★合标准：MIL-STD-750D、G128、JEDEC等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的大功率IGBT、MOS管做功率循环寿命试验。★技术特点：●严格满足△Tj≥100℃。●检测显示... ...

二管全动态老化系统 OPLIFE,老化筛选试验,例行试验

二管全动态老化系统★合标准：MIL-STD-750D、G128、JEDEC等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的整流二管全动态寿命试验。★技术特点：●50HZ工频供电，正半波加平均电流，负半波加高压VR。●每个... ...

电容器高温老化系统,MIL-STD-202E,G360,老化,例行试验

电容器高温老化系统★合标准：MIL-STD-202E、G360等标准。★适用范围：适用于各种封装形式的独石电容器、胆电容器、电解电容器、云母电容器、薄膜电容器进行高温寿命试验或高温老化筛选试验。★技术特点：●... ...

HTRB 桥堆高温反偏老化系统 HTIR

桥堆高温反偏老化系统（HTRB、HTIR）★合标准：MIL-STD-750D、G128、JEDEC等标准。★适用范围：适用于各种封形式的桥堆件进行高温反偏试验(HTRB)和高温漏流测试试验（HTIR）。★技术特点：●实时监测每个试验... ...

LED老化系统,led恒流源,LED power,LED常温寿命试验,脉冲试验

LED老化系统---常温老化★合标准：MIL-STD-750D、G128、JEDEC等试验标准。★适用范围：适用于各种封装形式的中、小功率的LED稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）以及电流冲击试验（脉冲试验）。★技... ...